Semiconductor & Electronics

데이터가 스스로 최적의 경로를
찾는 곳, X-SCADA AI를 통해
수만 개의 파라미터 실시간 분석 및 초격차 제조 경쟁력 제공

Precision Beyond Limits

수만 개의 공정 파라미터와 설비 데이터를 실시간으로 수집·동기화하고
AI 기반 분석을 통해 공정 간 상관관계와 미세 변화를 정밀하게 해석하여
생산 흐름을 스스로 최적화하는 지능형 제조 환경을 구현함으로써
반도체·전자 산업의 수율, 품질, 생산성을 동시에 끌어올리는 초정밀 제조 경쟁력을 제공합니다.

Real-time Visible Factory diagram

끊임없는 연결로 완성되는 초고속 공정,
글로벌 전자 산업의 표준을 제시하다

Zero-Defect Innovation

공정과 설비, 시스템을 끊김 없이 연결하여 데이터 흐름의 지연을 제거하고
초고속 공정 환경에서도 안정적인 제어와 일관된 품질 기준을 유지함으로써
미세한 편차조차 허용하지 않는 무결점 생산 체계를 구축하고
글로벌 전자 산업이 요구하는 품질과 신뢰성의 새로운 표준을 제시합니다.

X-SCADA AI 운영화면

X-SCADA AI 운영화면

Smart Connection, Absolute Solution

기대효과

Challenge 우리가 직면한 문제들

01. 데이터 단절로 인한 공정 가시성 한계

데이터 무결성 및 실시간성 저하

수동·분산된 데이터 수집 체계로 인해 공정 데이터의 신뢰성과 실시간 동기화가 어려움

전 주기 분석 한계

공정 간 데이터 단절로 이력 추적과 상관관계 분석에 제약이 발생

02. 제한적인 모니터링과 관제 사각지대

부분 공정 중심 모니터링

개별 공정 단위의 제한적 모니터링에 머물러 전체 생산 흐름 파악이 지연

종합 관제 부재

라인 전반을 아우르는 통합 관제 체계가 없어 이상 상태 인지와 대응이 늦어짐

03. 사후 대응 중심의 설비 관리와 의사결정 지연

수동 대응 리스크

이상 징후 자동 감지 체계 부재로 복구 시간이 길어지고 손실이 확대

의사결정 민첩성 저하

수기 데이터와 사후 집계 방식에 의존해 공정 개선과 시장 대응 속도가 저하

Solution 자이솜의 혁신기술

01. 데이터 인텔리전스 기반 통합 분석

고신뢰 데이터 통합

수기·분산 데이터를 고정밀 디지털 데이터로 통합해 제조 공정의 가시성을 확보

분석 중심 제조 환경

데이터 무결성을 기반으로 공정 분석과 품질 판단의 신뢰도를 향상

02. End-to-End 실시간 전 공정 관제

라인 전체 통합 모니터링

개별 설비를 넘어 라인 전체를 아우르는 실시간 관제로 이상 상태를 조기에 감지

고해상도 시각화 대시보드

병목 구간과 생산 현황을 직관적으로 확인해 즉각적인 공정 대응을 지원

03. 예지 정비와 Zero-Defect 품질 혁신

AI 기반 예지 정비

설비 파라미터의 실시간 분석으로 장애 징후를 사전에 포착하는 PdM 구현

수율·품질 고도화

실시간 공정 제어와 불량 원인 추적으로 불량률을 획기적으로 감소

Impact 변화될 미래와 기대 가치

01. 지능형 자율 공정 실현

무중단 생산 체계

AI 기반 자동 최적화를 통해 인적 개입 없는 안정적인 연속 생산을 구현

공정 처리량 극대화

실시간 제어로 라인 가용성과 생산 처리량을 동시에 향상

02. 운영 비용 최적화와 손실 최소화

자원·에너지 최적화

설비 가동 데이터를 정밀 분석해 에너지·자원 소모를 효율적으로 제어

다운타임 제거

예지 정비를 통해 예기치 못한 생산 중단과 막대한 손실을 예방

03. 차세대 제조 기술 경쟁력 확보

IoT·빅데이터·AI 기술을 현장에 내재화해 스마트 제조의 디지털 DNA를 강화

웨이퍼 제조 등 핵심 공정의 디지털 전환으로 차세대 반도체 시장 주도권을 확보

자이솜의 '보이는 공장'을 경험하세요

적용사례