Semiconductor & Electronics

データが自律的に最適解を見出す場所。
X-SCADA AIによる数万のパラメータ分析で、 超格差の製造競争力を提供します。

Precision Beyond Limits

数万件の工程パラメータと設備データをリアルタイムで収集・同期。 AI分析により工程間の相関関係と微細な変化を精緻に解析し、 生産フローを自律的に最適化する知能型製造環境を実現します。 歩留まり、品質、生産性を同時に引き上げる超精密な競争力を提供します。

Real-time Visible Factory diagram

シームレスな接続で完成する超高速工程、
グローバル電子産業の標準を提示する。

Zero-Defect Innovation

工程、設備、システムを途切れることなく接続し、データ遅延を排除。 超高速な製造環境でも安定した制御と一貫した品質基準を維持します。 微細な偏差も許容しない無欠陥(Zero-Defect)生産体制を構築し、 世界の電子産業が求める品質と信頼性の新たな標準を確立します。

X-SCADA AI 運用画面

X-SCADA AI 運用画面

Smart Connection, Absolute Solution

主なメリット

Challenge 私たちが直面している課題

01. データ分断による可視性の限界

整合性とリアルタイム性の低下

手動・分散した収集体系により、データの信頼性と同期が困難な状態。

全周期分析の困難

工程間のデータ断絶により、履歴追跡と相関分析に制約が発生。

02. 制限的な監視と監視の死角

部分工程中心の監視

個別ユニット単位の監視にとどまり、生産フロー全体の把握が遅延。

総合監視の不在

ライン全体を統合する体系がなく、異常への対応が後手に回る。

03. 事後対応中心の保守と意思決定の遅れ

手動対応のリスク

自動検知がないため復旧時間が長引き、多大な損失につながる懸念。

意思決定の俊敏性低下

手書きデータと事後集計に依存し、工程改善と市場対応が遅延。

Solution XISOMの革新技術

01. インテリジェンス基盤の統合分析

高信頼データの統合

分散したデータを高精度なデジタルデータへ統合し、可視性を確保。

分析中心の製造環境

データの完全性を基盤に、品質判断と工程分析の信頼性を向上。

02. End-to-End リアルタイム全工程監視

ライン全体の統合監視

個別設備を超えたリアルタイム監視により、異常状態を早期に検知。

高解像度ダッシュボード

ボトルネックを直感的に特定し、即時的な工程対応を支援。

03. 予兆保全とZero-Defectの品質革新

AI基盤の予兆保全(PdM)

設備パラメータのリアルタイム分析で障害の兆候を事前に捕捉。

歩留まり・品質の高度化

リアルタイム制御と原因追跡により、不良率を画期的に低減。

Impact 変化する未来と期待価値

01. 知能型自律工程の実現

中断のない生産体系

AIによる自動最適化で、人的介入のない安定した連続生産を実現。

スループットの最大化

リアルタイム制御により、ライン稼働率と処理能力を同時に向上。

02. 運営コストの最適化と損失最小化

資源・エネルギーの最適化

稼働データを精緻に分析し、リソース消費を効率的に制御。

ダウンタイムの排除

予兆保全を通じて予期せぬ生産停止と膨大な損失を未然に防止。

03. 次世代製造技術の競争力確保

IoT・AI技術を現場に浸透させ、スマート製造のデジタルDNAを強化。

ウェーハ製造等の核心工程のDXにより、次世代半導体市場の主導権を確保。

XISOMの「見える工場」をご体験ください

導入事例